GB/T 29505-2013
Prüfverfahren zur Messung der Oberflächenrauheit auf planaren Oberflächen von Siliziumwafern (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 29505-2013
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2013
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Letzte Version
- GB/T 29505-2013
GB/T 29505-2013 Normative Verweisungen
- GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
GB/T 29505-2013 Veröffentlichungsverlauf
- 2013 GB/T 29505-2013 Prüfverfahren zur Messung der Oberflächenrauheit auf planaren Oberflächen von Siliziumwafern
