BS ISO 16531:2013
Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS

Standard-Nr.
BS ISO 16531:2013
Erscheinungsdatum
2013
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Zustand
 2020-10
ersetzt durch
BS ISO 16531:2020
Letzte Version
BS ISO 16531:2020

BS ISO 16531:2013 Veröffentlichungsverlauf

  • 2020 BS ISO 16531:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
  • 2013 BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS



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