BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Maschinenmodell (MM)

Standard-Nr.
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Erscheinungsdatum
2006
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Letzte Version
BS EN 60749-27:2006+A1:2012
Ersetzen
05/30128292 DC-2005 BS EN 60749:1999 BS EN 60749-27:2006

BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Veröffentlichungsverlauf

  • 2006 BS EN 60749-27:2006+A1:2012 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Maschinenmodell (MM)
  • 2006 BS EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden – Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM)
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD). Maschinenmodell (MM)



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