IEEE/ANSI N42.31-2003
Amerikanischer nationaler Standard für Messverfahren für Auflösung und Effizienz von Halbleiterdetektoren mit großer Bandlücke für ionisierende Strahlung

Standard-Nr.

IEEE/ANSI N42.31-2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEEE/ANSI N42.31-2003

IEEE/ANSI N42.31-2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2003 IEEE/ANSI N42.31-2003 Amerikanischer nationaler Standard für Messverfahren für Auflösung und Effizienz von Halbleiterdetektoren mit großer Bandlücke für ionisierende Strahlung