LST EN 60749-40-2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens (IEC 60749-40:2011)

Standard-Nr.

LST EN 60749-40-2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

Lithuanian Standards Office

Letzte Version

LST EN 60749-40-2011

LST EN 60749-40-2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 LST EN 60749-40-2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens (IEC 60749-40:2011)