LST EN 60191-6-19-2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug (IEC 60191-6-19:2010)

Standard-Nr.

LST EN 60191-6-19-2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Lithuanian Standards Office

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LST EN 60191-6-19-2010

LST EN 60191-6-19-2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 LST EN 60191-6-19-2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug (IEC 60191-6-19:2010)