LST EN 60749-38-2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008)

Standard-Nr.

LST EN 60749-38-2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Lithuanian Standards Office

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LST EN 60749-38-2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 LST EN 60749-38-2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008)