LST EN 62374-2008
Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007)

Standard-Nr.

LST EN 62374-2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Lithuanian Standards Office

Letzte Version

LST EN 62374-2008

LST EN 62374-2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 LST EN 62374-2008 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007)