LST EN 60749-23-2004 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Teil 23: Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (IEC 60749-23:2004)
2004LST EN 60749-23-2004 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Teil 23: Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (IEC 60749-23:2004)