DS/EN 60749-40:2011
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens

Standard-Nr.

DS/EN 60749-40:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

Danish Standards Foundation

Letzte Version

DS/EN 60749-40:2011

DS/EN 60749-40:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 DS/EN 60749-40:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 40: Fallprüfverfahren auf Platinenebene unter Verwendung eines Dehnungsmessstreifens