DS/EN 60749-38:2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

Standard-Nr.

DS/EN 60749-38:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Danish Standards Foundation

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DS/EN 60749-38:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 DS/EN 60749-38:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher