ANSI/IEEE 1500:2005
Standardtestmethode für eingebettete kernbasierte integrierte Schaltkreise C/TT

Standard-Nr.

ANSI/IEEE 1500:2005

Erscheinungsdatum

2005

Organisation

American National Standards Institute （ANSI)

Letzte Version

ANSI/IEEE 1500:2005

ANSI/IEEE 1500:2005 Veröffentlichungsverlauf

• 2005 ANSI/IEEE 1500:2005 Standardtestmethode für eingebettete kernbasierte integrierte Schaltkreise C/TT