DIN 50450-1:1987 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierungsgasen; Bestimmung der Wasserverunreinigung in Wasserstoff, Sauerstoff, Stickstoff, Argon und Helium mithilfe einer Diphosphorpentoxidzelle
DIN 50450-2:1991 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierungsgasen; Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in N, Ar, He, Ne und H mithilfe einer galvanischen Zelle
DIN 50450-3:1991 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Bestimmung von Verunreinigungen in Trägergasen und Dotierungsgasen; Bestimmung der Methanverunreinigung in H, O, N, Ar und He mithilfe eines Flammenionisationsdetektors (FID)
DIN 50452-1:1995 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Prüfverfahren zur Partikelanalyse in Flüssigkeiten – Teil 1: Mikroskopische Bestimmung von Partikeln
DIN 50452-2:1991 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik; Prüfverfahren zur Partikelanalyse in Flüssigkeiten; Bestimmung von Partikeln mit optischen Partikelzählern
DIN 58356-12:2000 Filterelemente - Membranfilterelemente - Teil 12: Integritätstest hydrophober Membranfilter mit Wasser
DIN 58356-2:2000 Membranfilterelemente - Teil 2: Druckhalterprüfungen