JIS Z 2351:2011
Verfahren zur Bewertung elektronischer Eigenschaften von Ultraschallprüfgeräten

Standard-Nr.

JIS Z 2351:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS Z 2351:2011

Ersetzen

JIS Z 2351:1992

JIS Z 2351:2011 Normative Verweisungen

• JIS Z 2300 Begriffe und Definitionen der zerstörungsfreien Prüfung*， 2020-11-20 Aktualisieren
• JIS Z 8103 Glossar der in der Messung verwendeten Begriffe*， 2019-05-20 Aktualisieren

JIS Z 2351:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 JIS Z 2351:2011 Verfahren zur Bewertung elektronischer Eigenschaften von Ultraschallprüfgeräten
• 1992 JIS Z 2351:1992 Verfahren zur Beurteilung der elektrischen Eigenschaften von Ultraschallprüfgeräten mithilfe der Impulsechotechnik