BS EN 60749-40:2011
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Falltestmethode auf Platinenebene mit einem Dehnungsmessstreifen

Standard-Nr.

BS EN 60749-40:2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS EN 60749-40:2011

ersetzt durch

NF V08-010-4:2017

BS EN 60749-40:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 BS EN 60749-40:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Falltestmethode auf Platinenebene mit einem Dehnungsmessstreifen