IEC 62276:2005
Einkristallwafer für die Anwendung in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
Start
IEC 62276:2005
Standard-Nr.
IEC 62276:2005
Erscheinungsdatum
2005
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Zustand
ersetzt werden
2016-11
ersetzt durch
IEC 62276:2012
Letzte Version
IEC 62276:2016
IEC 62276:2005 Veröffentlichungsverlauf
2016
IEC 62276:2016
Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
2012
IEC 62276:2012
Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
2005
IEC 62276:2005
Einkristallwafer für die Anwendung in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
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