EN 60191-6-20:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messverfahren für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ)

Standard-Nr.

EN 60191-6-20:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Letzte Version

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EN 60191-6-20:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 EN 60191-6-20:2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messverfahren für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ)