IEEE 1671-2010
Automatic Test Markup Language (ATML) zum Austausch automatischer Testgeräte und Testinformationen über XML

Standard-Nr.

IEEE 1671-2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Letzte Version

IEEE 1671-2010

IEEE 1671-2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 IEEE 1671-2010 Automatic Test Markup Language (ATML) zum Austausch automatischer Testgeräte und Testinformationen über XML
• 2006 IEEE 1671-2006 Standard für Automatic Test Markup Language (ATML) zum Austausch automatischer Testgeräte und Testinformationen über XML: Austausch von Testbeschreibungen