GB/T 26070-2010
Charakterisierung von Schäden unter der Oberfläche in polierten Verbindungshalbleiterwafern durch Reflexionsdifferenzspektroskopie (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 26070-2010
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2011
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 26070-2010

GB/T 26070-2010 Veröffentlichungsverlauf

  • 2011 GB/T 26070-2010 Charakterisierung von Schäden unter der Oberfläche in polierten Verbindungshalbleiterwafern durch Reflexionsdifferenzspektroskopie
Charakterisierung von Schäden unter der Oberfläche in polierten Verbindungshalbleiterwafern durch Reflexionsdifferenzspektroskopie



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