GB/T 26067-2010
Standardtestmethode für die Abmessungen von Kerben auf Siliziumwafern (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 26067-2010

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 26067-2010

GB/T 26067-2010 Normative Verweisungen

• GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
• GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*， 2013-02-15 Aktualisieren

GB/T 26067-2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 GB/T 26067-2010 Standardtestmethode für die Abmessungen von Kerben auf Siliziumwafern