EN 60191-6-19:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug

Standard-Nr.

EN 60191-6-19:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Letzte Version

EN 60191-6-19:2010

EN 60191-6-19:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 EN 60191-6-19:2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug