JIS C 1806-2-2:2010
Elektrische Geräte für Mess-, Steuer- und Laborzwecke – EMV-Anforderungen – Teil 2-2: Besondere Anforderungen – Testkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für tragbare Test-, Mess- und Überwachungsgeräte, die in verwendet werden

Standard-Nr.

JIS C 1806-2-2:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

JIS C 61326-2-2:2017

Letzte Version

JIS C 61326-2-2:2017

JIS C 1806-2-2:2010 Normative Verweisungen

• IEC 61557 *， 2023-09-15 Aktualisieren
• JIS C 1806-1:2010 Elektrische Geräte für Mess-, Steuer- und Laborzwecke – EMV-Anforderungen – Teil 1: Allgemeine Anforderungen
• JIS C 60050-161:1997 Internationales elektrotechnisches Vokabular: Elektromagnetische Verträglichkeit
• JIS C 61000-4-3:2005 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-3: Prüf- und Messtechniken – Prüfung der Störfestigkeit gegenüber abgestrahlten, hochfrequenten und elektromagnetischen Feldern
• JIS C 61000-4-6 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-6: Prüf- und Messtechniken – Immunität gegenüber leitungsgebundenen Störungen, die durch hochfrequente Felder induziert werden*， 2017-03-21 Aktualisieren

JIS C 1806-2-2:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 JIS C 61326-2-2:2017 Elektrische Geräte für Mess-, Steuer- und Laborzwecke – EMV-Anforderungen – Teil 2-2: Besondere Anforderungen – Testkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für tragbare Test-, Mess- und Überwachungsgeräte, die in verwendet werden
• 2010 JIS C 1806-2-2:2010 Elektrische Geräte für Mess-, Steuer- und Laborzwecke – EMV-Anforderungen – Teil 2-2: Besondere Anforderungen – Testkonfigurationen, Betriebsbedingungen und Leistungskriterien für tragbare Test-, Mess- und Überwachungsgeräte, die in verwendet werden