DIN EN 60191-6-19:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug (IEC 60191-6-19:2010); Deutsche Fassung EN 60191-6-19:2010

Standard-Nr.
DIN EN 60191-6-19:2010
Erscheinungsdatum
2010
Organisation
German Institute for Standardization
Zustand
ersetzt durch
DIN EN 60191-6-19:2010-10
Letzte Version
DIN EN 60191-6-19:2010-10

DIN EN 60191-6-19:2010 Veröffentlichungsverlauf

  • 2010 DIN EN 60191-6-19:2010-10 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug (IEC 60191-6-19:2010); Deutsche Fassung EN 60191-6-19:2010
  • 2010 DIN EN 60191-6-19:2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug (IEC 60191-6-19:2010); Deutsche Fassung EN 60191-6-19:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-19: Messverfahren für den Gehäuseverzug bei erhöhter Temperatur und den maximal zulässigen Verzug (IEC 60191-6-19:2010); Deutsche Fassung EN 60191-6-19:2010

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