IEC 60191-6-21:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-21: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messverfahren für Gehäuseabmessungen von Small Outline Packages (SOP)
- Standard-Nr.
- IEC 60191-6-21:2010
- Erscheinungsdatum
- 2010
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60191-6-21:2010
IEC 60191-6-21:2010 Veröffentlichungsverlauf
- 2010 IEC 60191-6-21:2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-21: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messverfahren für Gehäuseabmessungen von Small Outline Packages (SOP)
