IEC 60191-6-20:2010
Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messverfahren für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ)
- Standard-Nr.
- IEC 60191-6-20:2010
- Erscheinungsdatum
- 2010
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60191-6-20:2010
IEC 60191-6-20:2010 Veröffentlichungsverlauf
- 2010 IEC 60191-6-20:2010 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-20: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen – Messverfahren für Gehäuseabmessungen von J-Lead-Gehäusen mit kleinem Umriss (SOJ)
