IEC 60749-19:2003/AMD1:2010
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Scherfestigkeitsprüfung

Standard-Nr.

IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 60749-19:2003/AMD1:2010

IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 IEC 60749-19:2003/AMD1:2010 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Scherfestigkeitsprüfung
• 2010 IEC 60749-19:2010 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 19: Scherfestigkeitsprüfung
• 2003 IEC 60749-19:2003 Halbleiter-Geräte, mechanische und klimatische Methoden, Teil 19: Widerstandsfähigkeit gegen Ausbrechen (Ausgabe 1.0)