JIS C 5402-2-6:2005
Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-6: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2f: Elektrischer Durchgang des Gehäuses (Gehäuses).

Standard-Nr.

JIS C 5402-2-6:2005

Erscheinungsdatum

2005

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS C 5402-2-6:2005

JIS C 5402-2-6:2005 Veröffentlichungsverlauf

• 2005 JIS C 5402-2-6:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 2-6: Elektrische Durchgangs- und Kontaktwiderstandsprüfungen – Prüfung 2f: Elektrischer Durchgang des Gehäuses (Gehäuses).