JIS C 60068-2-20:2010
Umwelttests – Teil 2-20: Tests – Test T: Testmethoden für Lötbarkeit und Beständigkeit gegenüber Löthitze von Geräten mit Anschlüssen

Standard-Nr.

JIS C 60068-2-20:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Zustand

ersetzt werden 2022-09

ersetzt durch

JIS C 60068-2-20:2022

Letzte Version

JIS C 60068-2-20:2022

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JIS C 60068-2-20:1996

JIS C 60068-2-20:2010 Normative Verweisungen

• IEC 60194 Design, Herstellung und Montage von Leiterplatten – Begriffe und Definitionen*， 2015-04-01 Aktualisieren
• JIS C 60068-1 Umwelttests – Teil 1: Allgemeines und Anleitung*， 2016-04-20 Aktualisieren
• JIS C 60068-2-2 Umwelttests – Teil 2-2: Tests – Test B: Trockene Hitze
• JIS C 61191-3 Leiterplattenbaugruppen – Teil 3: Rahmenspezifikation – Anforderungen für durchkontaktierte, gelötete Baugruppen
• JIS C 61191-4 Leiterplattenbaugruppen – Teil 4: Rahmenspezifikation – Anforderungen für Lötbaugruppen mit Anschlüssen
• JIS K 5902 Kolophonium
• JIS K 8101 Ethanol (99,5)
• JIS K 8839 2-Propanol (Reagenz)

JIS C 60068-2-20:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2022 JIS C 60068-2-20:2022 Umwelttests – Teil 2-20: Tests – Tests Ta und Tb: Testmethoden für Lötbarkeit und Beständigkeit gegenüber Löthitze von Geräten mit Anschlüssen
• 2010 JIS C 60068-2-20:2010 Umwelttests – Teil 2-20: Tests – Test T: Testmethoden für Lötbarkeit und Beständigkeit gegenüber Löthitze von Geräten mit Anschlüssen
• 1996 JIS C 60068-2-20:1996 Grundlegende Umwelttestverfahren Teil 2: Tests. Test T: Löten