IEC 62132-2:2010
Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 2: Messung der Strahlungsimmunität – TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellen-Methode

Standard-Nr.
IEC 62132-2:2010
Erscheinungsdatum
2010
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 62132-2:2010
Ersetzen
IEC 47A/838/FDIS:2010

IEC 62132-2:2010 Normative Verweisungen

  • IEC 60050-131:2002 Internationales elektrotechnisches Vokabular – Teil 131: Schaltungstheorie
  • IEC 60050-161:1990 Internationales elektrotechnisches Vokabular; Kapitel 161: Elektromagnetische Verträglichkeit
  • IEC 61967-2 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 2: Messung abgestrahlter Emissionen – TEM-Zelle und Breitband-TEM-Zellen-Methode
  • IEC 62132-1:2006 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität, 150 kHz bis 1 GHz – Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen

IEC 62132-2:2010 Veröffentlichungsverlauf

  • 2010 IEC 62132-2:2010 Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 2: Messung der Strahlungsimmunität – TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellen-Methode
Integrierte Schaltkreise – Messung der elektromagnetischen Immunität – Teil 2: Messung der Strahlungsimmunität – TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellen-Methode



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