JIS K 0190:2010
Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie

Standard-Nr.

JIS K 0190:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS K 0190:2010

JIS K 0190:2010 Normative Verweisungen

• ISO 17470:2004 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie

JIS K 0190:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 JIS K 0190:2010 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie