JIS K 0163:2010
Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung relativer Empfindlichkeitsfaktoren aus ionenimplantierten Referenzmaterialien

Standard-Nr.

JIS K 0163:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS K 0163:2010

JIS K 0163:2010 Normative Verweisungen

• JIS K 0147 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular

JIS K 0163:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 JIS K 0163:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung relativer Empfindlichkeitsfaktoren aus ionenimplantierten Referenzmaterialien