JIS C 2162:2010
Testverfahren zur Langzeitzuverlässigkeit des Gate-Isolators für SiC-Geräte bei hohen Temperaturen

Standard-Nr.

JIS C 2162:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS C 2162:2010

JIS C 2162:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 JIS C 2162:2010 Testverfahren zur Langzeitzuverlässigkeit des Gate-Isolators für SiC-Geräte bei hohen Temperaturen