IEC 62562:2010
Hohlraumresonatormethode zur Messung der komplexen Permittivität verlustarmer dielektrischer Platten

Standard-Nr.

IEC 62562:2010

Erscheinungsdatum

2010

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 62562:2010

Ersetzen

IEC 46F/118/CDV:2009 IEC/PAS 62562:2008

IEC 62562:2010 Veröffentlichungsverlauf

• 2010 IEC 62562:2010 Hohlraumresonatormethode zur Messung der komplexen Permittivität verlustarmer dielektrischer Platten