GB/T 1550 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*, 2018-12-28 Aktualisieren
GB/T 1552 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium und Germanium mit einem kollinearen Vier-Sonden-Array
GB/T 1553 Bestimmung der Lebensdauer von Minoritätsträgern in Silizium und Germanium durch die Methode des Photoleitungszerfalls*, 2023-08-06 Aktualisieren
GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*, 2013-02-15 Aktualisieren
GB/T 5252 Prüfverfahren für die Versetzungsdichte von einkristallinem Germanium*, 2020-06-02 Aktualisieren
GB/T 5238-2009 Veröffentlichungsverlauf
2019GB/T 5238-2019 Monokristallines Germanium und monokristalline Germaniumscheiben
2009GB/T 5238-2009 Monokristallines Germanium und monokristalline Germaniumscheiben