DB31/T 297-2003
Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops (Englische Version)

Standard-Nr.

DB31/T 297-2003

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China

Letzte Version

DB31/T 297-2003

DB31/T 297-2003 Normative Verweisungen

• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
• ISO Guide 30:1992 Begriffe und Definitionen, die im Zusammenhang mit Referenzmaterialien verwendet werden
• JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
• JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

DB31/T 297-2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2004 DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops