IEC 62047-6:2009
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 6: Axiale Ermüdungsprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien
Start
IEC 62047-6:2009
Standard-Nr.
IEC 62047-6:2009
Erscheinungsdatum
2009
Organisation
International Electrotechnical Commission (IEC)
Letzte Version
IEC 62047-6:2009
Ersetzen
IEC 47F/15/FDIS:2009
IEC 62047-6:2009 Veröffentlichungsverlauf
2009
IEC 62047-6:2009
Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 6: Axiale Ermüdungsprüfverfahren für Dünnschichtmaterialien
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