IEC 61000-4-27:2000/AMD1:2009
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-27: Prüf- und Messtechniken – Unsymmetrie, Immunitätsprüfung für Geräte mit einem Eingangsstrom von nicht mehr als 16 A pro Phase; Änderung 1

Standard-Nr.

IEC 61000-4-27:2000/AMD1:2009

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 61000-4-27:2000/AMD1:2009

Ersetzen

IEC 77A/672/FDIS:2008

IEC 61000-4-27:2000/AMD1:2009 Veröffentlichungsverlauf

• 2009 IEC 61000-4-27:2000/AMD1:2009 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-27: Prüf- und Messtechniken – Unsymmetrie, Immunitätsprüfung für Geräte mit einem Eingangsstrom von nicht mehr als 16 A pro Phase; Änderung 1
• 2009 IEC 61000-4-27:2009 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) – Teil 4-27: Prüf- und Messtechniken – Unsymmetrie, Immunitätsprüfung für Geräte mit einem Eingangsstrom von nicht mehr als 16 A pro Phase
• 2000 IEC 61000-4-27:2000 Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) - Teil 4-27: Prüf- und Messtechnik; Unsymmetrie, Immunitätstest für Geräte mit einem Eingangsstrom von nicht mehr als 16 A pro Phase