IEC 60749-21:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit

Standard-Nr.

IEC 60749-21:2004

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

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ersetzt durch

IEC 60749-21:2005

Letzte Version

IEC 60749-21:2011

IEC 60749-21:2004 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 IEC 60749-21:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit
• 2005 IEC 60749-21:2005 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit
• 2004 IEC 60749-21:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 21: Lötbarkeit