JIS K 0150:2009
Chemische Oberflächenanalyse – Analyse von metallischen Beschichtungen auf Zink- und/oder Aluminiumbasis durch optische Glimmentladungsspektrometrie

Standard-Nr.
JIS K 0150:2009
Erscheinungsdatum
2009
Organisation
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Letzte Version
JIS K 0150:2009

JIS K 0150:2009 Normative Verweisungen

  • ISO 17925:2004 Zink- und/oder aluminiumbasierte Beschichtungen auf Stahl – Bestimmung der Beschichtungsmasse pro Flächeneinheit und der chemischen Zusammensetzung – Gravimetrie, Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma und Flammenatomabsorptionsspektrometrie
  • JIS G 0417 Stahl und Eisen – Probenahme und Probenvorbereitung zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung
  • JIS K 0144 Chemische Oberflächenanalyse – Optische Emissionsspektrometrie mit Glimmentladung (GD-OES) – Einführung in die Verwendung*2018-02-20 Aktualisieren
  • JIS Z 8402-1 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 1: Allgemeine Grundsätze und Definitionen
  • JIS Z 8402-2 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 2: Grundlegende Methode zur Bestimmung der Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit einer Standardmessmethode
  • JIS Z 8402-6 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 6: Verwendung von Genauigkeitswerten in der Praxis

JIS K 0150:2009 Veröffentlichungsverlauf

  • 2009 JIS K 0150:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Analyse von metallischen Beschichtungen auf Zink- und/oder Aluminiumbasis durch optische Glimmentladungsspektrometrie



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