EN 60749-27:2006
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Enthält Änderung A1: 2012)

Standard-Nr.

EN 60749-27:2006

Erscheinungsdatum

2006

Organisation

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Letzte Version

EN 60749-27:2006

EN 60749-27:2006 Veröffentlichungsverlauf

• 2006 EN 60749-27:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Maschinenmodell (MM) (Enthält Änderung A1: 2012)