EN 60749-19:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 19: Die Scherfestigkeit (Inkorrigiert Korrigendum Juni 2003; Integriert Änderung A1: 2010)
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
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2003EN 60749-19:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 19: Die Scherfestigkeit (Inkorrigiert Korrigendum Juni 2003; Integriert Änderung A1: 2010)