EN 60749-5:2003 Mechanische und klimatische Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
2017EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
2003EN 60749-5:2003 Mechanische und klimatische Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit