BS EN 60749-29:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 29: Latch-Up-Test

Standard-Nr.

BS EN 60749-29:2003

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Zustand

ersetzt werden 2011-08

ersetzt durch

BS EN 60749-29:2011

BS EN 60749-29:2004

Letzte Version

BS EN 60749-29:2011

BS EN 60749-29:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2011 BS EN 60749-29:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Latch-up-Test
• 2004 BS EN 60749-29:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 29: Latch-Up-Test