GB/T 22572-2008
Eine Methode zur Schätzung tiefenaufgelöster Parameter unter Verwendung von Referenzmaterialien mit mehreren Delta-Schichten für die Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Oberflächenchemie (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 22572-2008
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2008
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 22572-2008

GB/T 22572-2008 Veröffentlichungsverlauf

  • 2008 GB/T 22572-2008 Eine Methode zur Schätzung tiefenaufgelöster Parameter unter Verwendung von Referenzmaterialien mit mehreren Delta-Schichten für die Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Oberflächenchemie
Eine Methode zur Schätzung tiefenaufgelöster Parameter unter Verwendung von Referenzmaterialien mit mehreren Delta-Schichten für die Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Oberflächenchemie



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