GB/T 22462-2008
Nano-, Submikron-Film auf Stahl. Quantitative Tiefenprofilanalyse. Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 22462-2008
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2008
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 22462-2008

GB/T 22462-2008 Normative Verweisungen

  • GB/T 19502 Chemische Oberflächenanalyse – Allgemeine Regeln für die optische Glimmentladungsspektrometrie (GD-OES)*2023-12-28 Aktualisieren
  • GB/T 20066 Stahl und Eisen. Probenahme und Vorbereitung von Proben zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung
  • GB/T 22461-2008 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz
  • GB/T 6379.1 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen Teil 1: Allgemeine Grundsätze und Definitionen
  • GB/T 6379.2 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 2: Grundlegende Methode zur Bestimmung der Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit einer Standardmessmethode
  • ISO 5725-3 Genauigkeit (Richtigkeit und Präzision) von Messmethoden und -ergebnissen – Teil 3: Mittlere Präzision und alternative Designs für Verbundstudien*2023-06-01 Aktualisieren
  • ISO 6955:1982 Analytische spektroskopische Methoden; Flammenemission, Atomabsorption und Atomfluoreszenz; Zweisprachige Ausgabe des Wortschatzes

GB/T 22462-2008 Veröffentlichungsverlauf

  • 2008 GB/T 22462-2008 Nano-, Submikron-Film auf Stahl. Quantitative Tiefenprofilanalyse. Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie
Nano-, Submikron-Film auf Stahl. Quantitative Tiefenprofilanalyse. Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie



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