EN 60749-38:2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher

Standard-Nr.
EN 60749-38:2008
Erscheinungsdatum
2008
Organisation
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC)
Letzte Version
EN 60749-38:2008

EN 60749-38:2008 Veröffentlichungsverlauf

  • 2008 EN 60749-38:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher



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