DIN EN 62024-1:2008
Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messverfahren – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2008); Deutsche Fassung EN 62024-1:2008
- Standard-Nr.
- DIN EN 62024-1:2008
- Erscheinungsdatum
- 2008
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN EN 62024-1 E:2017-02
- Letzte Version
- DIN EN 62024-1 E:2017-02
- Ersetzen
- DIN IEC 62024-1:2007
DIN EN 62024-1:2008 Normative Verweisungen
- IEC 61249-2-7 Materialien für Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen - Teil 2-7: Verstärkte Grundmaterialien, plattiert und unbekleidet; Epoxidgewebte E-Glas-Verbundplatte mit definierter Brennbarkeit (vertikaler Brenntest), kupferkaschiert
- ISO 6353-3 Reagenzien für die chemische Analyse; Teil 3: Spezifikationen; Zweite Serie
- ISO 9453 Weichlotlegierungen – Chemische Zusammensetzungen und Formen*， 2020-09-24 Aktualisieren
DIN EN 62024-1:2008 Veröffentlichungsverlauf
- 1970 DIN EN 62024-1 E:2017-02 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messmethoden – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich
- 2008 DIN EN 62024-1:2008 Induktive Hochfrequenzkomponenten – Elektrische Eigenschaften und Messverfahren – Teil 1: Chip-Induktor im Nanohenry-Bereich (IEC 62024-1:2008); Deutsche Fassung EN 62024-1:2008
- 0000 DIN IEC 62024-1:2007
