JIS R 1660-1:2004
Messverfahren für dielektrische Eigenschaften von Feinkeramik im Millimeterwellenfrequenzbereich – Teil 1: Cutoff-Wellenleiterverfahren

Standard-Nr.

JIS R 1660-1:2004

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Letzte Version

JIS R 1660-1:2004

JIS R 1660-1:2004 Veröffentlichungsverlauf

• 2004 JIS R 1660-1:2004 Messverfahren für dielektrische Eigenschaften von Feinkeramik im Millimeterwellenfrequenzbereich – Teil 1: Cutoff-Wellenleiterverfahren