NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.

Standard-Nr.

NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

Association Francaise de Normalisation

Letzte Version

NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008

NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 NF C96-022-38*NF EN 60749-38:2008 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.