DIN EN 60444-8:2004
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2003); Deutsche Fassung EN 60444-8:2003
- Standard-Nr.
- DIN EN 60444-8:2004
- Erscheinungsdatum
- 2004
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN EN 60444-8:2017
- DIN EN 60444-8 A1 E:2013-10
- Letzte Version
- DIN EN 60444-8:2017-11
- Ersetzen
- DIN IEC 60444-8:2002
DIN EN 60444-8:2004 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 DIN EN 60444-8:2017-11 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2016); Deutsche Fassung EN 60444-8:2017 / Hinweis: DIN EN 60444-8 (2004-03) bleibt neben dieser Norm bis zum 19.01.2020 gültig.
- 0000 DIN EN 60444-8:2017
- 2004 DIN EN 60444-8:2004 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2003); Deutsche Fassung EN 60444-8:2003
- 0000 DIN IEC 60444-8:2002
